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標(biāo)準(zhǔn)試塊（雙晶直探頭試塊）
簡(jiǎn)要描述：中華人民共和國(guó)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 JB4730-2005本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測(cè)，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測(cè)。與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測(cè)，也可參照本部分使用。
產(chǎn)品型號(hào)：CSII-2試塊 CSII-4標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSII-6- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間：2024-04-15
- 訪 問(wèn) 量：3231
中華人民共和國(guó)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 JB4730-2005
本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測(cè)，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測(cè)。與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測(cè)，也可參照本部分使用。
標(biāo)準(zhǔn)試塊是指部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)新能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢測(cè)工件相同或近似的材料制成。該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于Φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。
對(duì)比試塊是指用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測(cè)，試塊的厚度應(yīng)由其zui大厚度來(lái)確定。
單晶直探頭（CSI）標(biāo)準(zhǔn)試塊
采用CSI試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合4-3和表4-3的規(guī)定。如確有需要也可采用其他對(duì)比試
塊。
所屬標(biāo)準(zhǔn)：JB 4730-2005
材 質(zhì)：20#鋼
| 試塊序號(hào) | CSI-1 | CSI-2 | CSI-3 | CSI-4 |
| L | 50 | 100 | 150 | 200 |
| D | 50 | 60 | 80 | 80 |
| 單價(jià) | 420元 | 420元 | 540元 | 540元 |
雙晶直探頭（CSII）標(biāo)準(zhǔn)試塊
a、工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊。
b、CSII試塊的形狀和尺寸應(yīng)該符合表中的規(guī)定
| 序號(hào) | CSII-1 | CSII-2 | CSII-3 | CSII-4 |
| Φ2 | Φ3 | Φ4 | Φ6 | |
| 檢測(cè)距離L | ||||
| 1 | 5 | |||
| 2 | 10 | |||
| 3 | 15 | |||
| 4 | 20 | |||
| 5 | 25 | |||
| 6 | 30 | |||
| 7 | 35 | |||
| 8 | 40 | |||
| 9 | 45 | |||
CSIII標(biāo)準(zhǔn)試塊（曲面對(duì)比試塊）,檢測(cè)面是曲面時(shí)，應(yīng)采用CSIII標(biāo)準(zhǔn)試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同而引起聲能損失。
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